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成像学

低温透射电子显微镜(TEM)

作为综合性、正规性、性的检测验证机构,中蓉凭借先进的技术和卓越的服务理念,为广大企业解决了众多品质难题,赢得了客户和社会的信赖。研究所正在担纲引领中国第三方检测行业跨越式发展的重任,也正在朝着成为较受人尊敬的检测验证机构的愿景迈进。

产品详情

低温透射电子显微镜Cryo-TEM涉及进行透射电子显微镜TEM分析,同时将样品保持在低温温度,即-170℃(或103 K)。

透射电子显微镜(TEM)是一种使用电子束对样品进行成像的技术。 高能电子 (80-200 keV) 通过电子透明样品(~100 nm 厚)传输并在平面上成像。

冷冻透射电镜涉及执行透射电子显微镜TEM分析,同时将样品保持在低温下,即 -170°C(或 103 K)。

使用低温的主要原因是:

  • ◆ 研究薄的冷冻悬浮液切片,允许对处于分散状态的颗粒进行形态学研究。

  • ◆ 减少电子束对样品的加热,从而减少敏感材料的潜在束损伤

  • ◆ 晶体材料低温相的研究

使用 Vitrobot ™ 样品制备工具、专用的冷冻样品转移装置和冷冻透射电镜样品架,可生产薄片 (~100 nm) 冷冻水分散体(“玻化冰层”)。

TEM理想用途

  • ◆ 脂质体,聚合物囊泡,乳液的胶体分散体

  • ◆ 分散体中粒子聚集的研究

  • ◆ 电子束敏感样品

  • ◆ 低温晶相研究

TEM优势强项

  • ◆ 允许在水分散体中对近乎自然状态的软物质进行成像

  • ◆ 允许对光束过于敏感的材料进行成像

TEM缺点限制

  • ◆ 水性分散体的样品制备需要针对不同的样品类型进行方法开发,因为它非常依赖于颗粒浓度、粒度和材料粘度

  • ◆ 玻璃化冰层的样品厚度由粒径决定。因此,样品的透明度将粒径限制在几百纳米

  • ◆ 能量色散X射线光谱(EDS)分析的分析时间受到限制,因为即使在低温下,光束也会诱导冻结水层升华

TEM技术指标

  • ◆ 检测到的信号: 传输电子

  • ◆ 检测到的元素: B-U(含EDS)

  • ◆ 检测限: 1 at%

  • ◆ 成像/映射: 是(使用EDS)

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