X射线实时成像RTX是一款高分辨率20-180 kV微焦点X射线检测系统,用于实时检测电子元件、焊点和冶金样品。X射线实时成像RTX使用高能X射线来查看样本,并显示设备的密度图。它对于检查样品外部不可见的组件非常有用:例如键合线、芯片尺寸、焊接连接和其他组件。
产品详情
◆ 以非破坏性方式检测密封设备内的缺陷
◆ 根据军用标准筛选生产电子元件
◆ 故障分析调查的出色应用
◆ 客户见证了现场射线照相检查
◆ 无损检测技术
◆ 180度工作台旋转
◆ 70度探测器倾斜能力
◆ 样本量大
◆ 无法解决非常薄的分离、分层或微裂纹
◆ 不适合非常轻的材料
◆ 分辨率为0.2微米;光束电压 10-180 kV
◆ 单个图像中的三英寸样本大小功能。较大的样本需要多个图像,最大样本尺寸为 ~22 平方英寸,更大的样本尺寸有限,可视区域有限
上一篇: 差示扫描量热法(DSC)
下一篇: 张力测量法(TSM)
相关推荐