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理化学

X射线实时成像(RTX)

X射线实时成像RTX是一款高分辨率20-180 kV微焦点X射线检测系统,用于实时检测电子元件、焊点和冶金样品。X射线实时成像RTX使用高能X射线来查看样本,并显示设备的密度图。它对于检查样品外部不可见的组件非常有用:例如键合线、芯片尺寸、焊接连接和其他组件。

产品详情

RTX理想用途

  • ◆ 以非破坏性方式检测密封设备内的缺陷

  • ◆ 根据军用标准筛选生产电子元件

  • ◆ 故障分析调查的出色应用

  • ◆ 客户见证了现场射线照相检查

RTX优势强项

  • ◆ 无损检测技术

  • ◆ 180度工作台旋转

  • ◆ 70度探测器倾斜能力

RTX缺点限制

  • ◆ 样本量大

  • ◆ 无法解决非常薄的分离、分层或微裂纹

  • ◆ 不适合非常轻的材料

RTX技术规格

  • ◆ 分辨率为0.2微米;光束电压 10-180 kV

  • ◆ 单个图像中的三英寸样本大小功能。较大的样本需要多个图像,最大样本尺寸为 ~22 平方英寸,更大的样本尺寸有限,可视区域有限


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