X射线吸收精细结构（X-ray absorption fine structure，XAFS），也叫X射线吸收谱（X-ray absorption spectroscopy，XAS），是一种基于同步辐射光源、研究材料局域原子或电子结构的一种有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域，主要有以下优点：

1.不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；

2.不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；

3.不受样品状态影响，可测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等；

4.对样品无破坏，可进行原位测试；

5.能获得高精度的配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数，一般认为原子间距精确度可达0.01Å。

XAFS数据解析可提供以下数据及服务：

1.XANES部分图谱，提供价态、初步结构的定性分析；

2.EXAFS拟合，提供配位原子种类、配位数和键长信息，以及简单的、从物理角度对谱的分析；

3.wavelet图谱，作为EXAFS拟合的进一步证据;

样品要求

1.粉末样品至少80-100mg（0.8-1.0ml体积量最好），越细越好，最好能过200目筛子，400目更好，一般研磨20min左右，

软线测试样品需不含油污、溶剂等成分；

2.粉末压片尺寸要求：直径大于6mm的圆形，厚度1mm左右；

3.块体样品要求测试面光滑，大小不超过5*5*5mm；